Feasibility of transmission x-ray microscopy at 4 keV with spatial resolutions below 150 nm
Applied Physics Letters. Bd. 75. H. 26. Melville, NY: American Institute of Physics 1999 4061
Erscheinungsjahr: 1999
ISBN/ISSN: 1520-8842
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: dx.doi.org/10.1063/1.125536
| Geprüft | Bibliothek |
Autoren
Kaulich, Burkhard (Autor)
Oestreich, Sebastian (Autor)
Salome, M. (Autor)
Barrett, Ray (Autor)
Susini, Jean (Autor)
Di Fabrizio, Enzo Mario (Autor)
Gentili, Massimo (Autor)
Charalabous, P. (Autor)
Klassifikation
DFG Fachgebiet:
Produktionstechnik
DDC Sachgruppe:
Physik
