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Thomas Wilhein

Prof. Dr. rer. nat. Thomas Wilhein

FB Mathematik und Technik, Hochschule Koblenz

Joseph-Rovan-Allee 2, 53424 Remagen, Raum: RheinAhrCampus, C  220

  • 02642/932-203
  • 02642/932-399
Profil

Dienstleistungsangebot

• Beratung und Entwicklung in den Bereichen Lasermesstechnik, Holographie, EUV-Technik, Röntgenstrahlung, Röntgenmikroskopie:
• Entwicklung von Röntgenoptiken für weiche Röntgenstrahlung
• Kalibrierung von Röntgenoptiken und Detektoren
• holographische Entwicklungen
• Herstellung dünner Schichten
• Untersuchung von Proben mit atomarer Auflösung

Referenzen & Unternehmenskontakte

Coherent Kaiserslautern GmbH
Bruker ASC, Köln
Fraunhofer Institut für Lasertechnik (ILT), Aachen
Xiton Photonics GmbH, Kaiserslautern
Institute for Scientific Instruments GmbH, Berlin
zoneplates.com ltd, London

Auszeichnungen, Preise & Ehrungen

Akademiepreis des Landes RLP 2009
Lehrpreis des Landes RLP 2009 für die beste MINT-Vorlesung an Fachhochschulen (Röntgenotik)

Gutachterfunktionen

Forschungsförderung:
Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG), Max-Planck-Geselschaft (MPG), Exzellenz-Cluster Aachen-Jülich (JARA), Investitons- und Strukturbank RLP (ISB), Deutsche Physikalische Gesellschaft (DPG)

Wissenschaftliche Zeitschriften:
Applied Physics, Applied Optics, Optics Letters, IEEE, Optics Communications, Journal of Analytical Atomic Spectrometry

Mitgliedschaften

Kuratorium des Photonik-Zentrums Kaiserslautern e.V.
Werner-Meyer-Ilse-Award Committees der internation. Röntgenmikroskopie-Konferenz XRM
Fachausschuss Physik der ASIIN (auch Gutachter bei Akkreditierungen)
Deutsche Physikalische Gesellschaft, Fachverband Didaktik der Physik
Lenkungskreis HS Koblenz
IG Metall

Herausgeberschaften

Mitorganisation der Konferenz SNI 2014 (Bonn 2014, 550 Teilnehmer)

DFG Fachgebiet

308-1 - Optik, Quantenoptik, Physik der Atome, Moleküle und Plasmen

Forschungsgebiet

  • EUV-Lithographie (Extreme Ultra Violet) Laserinduzierte Plasmen Detektoren Interferometrie Röntgenoptik Röntgenmikroskopie Holographie Differentielle Interferenzkontrast-Röntgenmikroskopie mit Zonenplatten im Spektralbereich weicher Röntgenstrahlung (X-DIC) Time-Resolved X-Ray Spectroscopy

Lehrgebiet

  • Mikroskopie Optik Physik Mathematik Lasertechnik Lasermesstechnik Röntgenoptik Nichtlineare Optik