TwinMic : a European Twin X-ray Microscopy Station Comissioned at ELETTRA
Aoki, Sadao (Hrsg). Proceedings of the 8th International Conference on X-ray microscopy. Tokio: IPAP : Institute of Pure and Applied Physics 2006 S. 22 - 25
Erscheinungsjahr: 2006
ISBN/ISSN: 978-4-900526-21-1
Publikationstyp: Buchbeitrag (Konferenzbeitrag)
Sprache: Englisch
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Inhaltszusammenfassung
IPAP Conference Series ; 7 26. - 30. Juli 2005, Japan PDF-Datei: http://www.ipap.jp/proc/cs7/pdf/cs7_022.pdf
Autoren
Kaulich, Burkhard (Autor)
Bacescu, Daniel (Autor)
Susini, Jean (Autor)
David, Christian (Autor)
Di Fabrizio, Enzo (Autor)
Morrison, Graeme (Autor)
Charalambous, Pambos (Autor)
Thieme, Jürgen (Autor)
Kovac, Janez (Autor)
Cocco, Daniele (Autor)
Salome, Murielle (Autor)
Dhez, Olivier (Autor)
Weitkamp, Timm (Autor)
Cabrini, Stefano (Autor)
Cojoc, Dan (Autor)
Gianoncelli, Alessandra (Autor)
Vogt, Ulrich (Autor)
Podnar, Matevz (Autor)
Zangrando, Marco (Autor)
Zacchigna, Michele (Autor)
Kiskinova, Maya (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
