Wavefront analysis and beam profiling from 40 eV up to 40 keV
Advances in X-Ray/EUV Optics, Components and Applications. Bd. 6317. Bellingham, Wash.: SPIE 2007 6317E
Erscheinungsjahr: 2007
ISBN/ISSN: 0277-786X
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz (Forschungsbericht)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1117/12.690297
| Geprüft: | Bibliothek |
Klassifikation
DFG Fachgebiet:
- ohne Zuordnung
DDC Sachgruppe:
Physik
