Compact high-resolution differential interference contrast soft x-ray microscopy
Applied Physics Letters. Bd. 92. H. 6. Melville, N.Y.: AIP Publishing 2008 064104
Erscheinungsjahr: 2008
ISBN/ISSN: 0003-6951
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1063/1.2842422
| Geprüft | Bibliothek |
Autoren
Bertilson, Michael C. (Autor)
von Hofsten, Olov (Autor)
Lindblom, Magnus (Autor)
Hertz, Hans M. (Autor)
Klassifikation
DFG Fachgebiet:
Optik, Quantenoptik und Physik der Atome, Moleküle und Plasmen
DDC Sachgruppe:
Physik
