Submicron Extreme Ultraviolet Imaging Using High-Harmonic Radiation
Applied Physics Letters. Bd. 81. H. 14. Melville, NY: American Institute of Physics 2002 S. 2520 - 2522
Erscheinungsjahr: 2002
ISBN/ISSN: 1077-3118
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1063/1.1511288
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Autoren
Wieland, Marek (Autor)
Frueke, Rolf (Autor)
Speilmann, Christian (Autor)
Pohl, Martin (Autor)
Kleineberg, Ulf (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
