Differential interference contrast x-ray microscopy
Proceedings of SPIE : Soft X-Ray and EUV Imaging Systems II. Bd. 4506. Bellingham, Wash.: SPIE 2001 S. 163 - 171
Erscheinungsjahr: 2001
ISBN/ISSN: 0277-786X
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1117/12.450957
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Autoren
Kaulich, Burkhard (Autor)
Di Fabrizio, Enzo (Autor)
Susini, Jean (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
