Spatial characterization of the focus produced by an EUV Schwarzschild objective
Journal of Physics : Conference Series. Bd. 499. H. 1. Bristol: Institute of Physics : IOP 2014 12008
Erscheinungsjahr: 2014
ISBN/ISSN: 1742-6596
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz (Elektronische Ressource)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1088/1742-6596/499/1/012008
| Geprüft: | Bibliothek |
Inhaltszusammenfassung
22nd International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis ; 2.–6. September 2013 in Hamburg, Germany
Autoren
Ewald, Johannes (Autor)
Wieland, Marek (Autor)
Nisius, Thomas (Autor)
Henning, Lars (Autor)
Feigl, Torsten (Autor)
Drescher, Markus (Autor)
Klassifikation
DFG Fachgebiet:
3.21 - Physik der kondensierten Materie
DDC Sachgruppe:
Physik
