TwinMic : combined Scanning and Full-field Imaging Microscopy with Novel Contrast Mechanisms
SRN : Synchrotron Radiation News. Bd. 16. H. 3 : Special Issue " X‐ray Microscopy". Philadelphia, Pa.: Taylor & Francis 2003 S. 49 - 52
Erscheinungsjahr: 2003
ISBN/ISSN: 1931-7344
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1080/08940880308603022
| Geprüft: | Bibliothek |
Autoren
Kaulich, Burkhard (Autor)
Susini, Jean (Autor)
David, Christian (Autor)
Di Fabrizio, Enzo (Autor)
Morrison, Graeme R. (Autor)
Thieme, Jürgen (Autor)
Kovac, Janez (Autor)
Bacescu, Daniel (Autor)
Salome, Murielle (Autor)
Dhez, Olivier (Autor)
Weitkamp, Timm (Autor)
Cabrini, Stefano (Autor)
Gosperini, A. (Autor)
Charalambous, Pambos (Autor)
Vogt, Ulrich (Autor)
Podnar, Matevz (Autor)
Kiskinova, Maya (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
