X-ray microscopy with high-resolution zone plates : recent developments
Proceedings of SPIE : X-Ray Microbeam Technology and Applications. Bd. 2516. Bellingham, Wash.: SPIE 1995 S. 90 - 101
Erscheinungsjahr: 1995
ISBN/ISSN: 0277-786X
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1117/12.221686
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Autoren
Schneider, Gerd (Autor)
Niemann, Bastian (Autor)
Guttmann, P. (Autor)
Schliebe, T. (Autor)
Lehr, J. (Autor)
Aschoff, H. (Autor)
Thieme, Jürgen (Autor)
Rudolph, Dietbert M. (Autor)
Schmahl, Günther A. (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
