Differential interference contrast x-ray microscopy with submicron resolution
Applied Physics Letters. Bd. 78. H. 14. Melville, NY: AIP 2001 S. 2082 - 2084
Erscheinungsjahr: 2001
ISBN/ISSN: 0003-6951
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Deutsch
Doi/URN: 10.1063/1.1360776
| Geprüft | Bibliothek |
Inhaltszusammenfassung
PDF-Datei: http://scitation.aip.org/docserver/fulltext/aip/journal/apl/78/14/1.1360776.pdf?expires=1421396105&id=id&accname=2102651&checksum=9DD0B44A594EF8116C28C2C7DD649DD5
Autoren
Kaulich, Burkhard (Autor)
Di Fabrizio, Enzo (Autor)
Romanato, Fillipo (Autor)
Cabrini, Stefano (Autor)
Susini, Jean (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
