A Portable Endstation for Analytical X-ray Microscopy Using Soft X-ray Synchrotron Radiation
Microscopy and Microanalysis : the official journal of the Microscopy Society of America. Bd. 24. H. 2. New York, NY: Cambridge University Press 2018 S. 232 - 233
Erscheinungsjahr: 2018
ISBN/ISSN: 1431-9276
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1017/s1431927618013508
| Geprüft | Bibliothek |
Autoren
Haidl, Andreas (Autor)
Wiesemann, Urs (Autor)
Andrianov, Konstantin (Autor)
Liihl, Lars (Autor)
Nisius, Thomas (Autor)
Dehlinger, Aurelie (Autor)
Dierks, Hanna (Autor)
KanngieBer, Birgit (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
