Near-Field Diffraction Imaging from Multiple Detection Planes
Journal of Physics : Conference Series. Bd. 849. Bristol: IOP Publishing 2017 012025, 4 Seiten
Erscheinungsjahr: 2017
ISBN/ISSN: 1742-6596
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz (Konferenzbeitrag)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1088/1742-6596/849/1/012025
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Inhaltszusammenfassung
X-Ray Microscopy Conference 2016 (XRM 2016) ; 15.–19. August 2016, Oxford University, United Kingdom
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
