X-ray microscopy studies with the Goettingen x-ray microscopes
Proceedings of SPIE : Soft X-Ray Microscopy. Bd. 1741. Bellingham, Wash.: SPIE 1993 S. 52 - 61
Erscheinungsjahr: 1993
ISBN/ISSN: 0277-786X
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1117/12.138763
| Geprüft: | Bibliothek |
Autoren
Guttmann, Peter (Autor)
Schneider, Gerd (Autor)
Thieme, Jürgen (Autor)
David, Christian (Autor)
Diehl, Michael (Autor)
Medenwaldt, Robin (Autor)
Niemann, Bastian (Autor)
Rudolph, Dietbert M. (Autor)
Schmahl, Günther A. (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
