Non-metal elemental analysis by a compact low-energy, high-repetition rate laser-induced-breakdown spectrometer
Bellingham, Wash.: SPIE : International Society for Optical Engineering 2009 (Proceedings of SPIE ; 7389)
Erscheinungsjahr: 2009
Titel des mehrbändigen Werkes: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection
ISBN/ISSN: 9780819476722
Publikationstyp: Buch (Konferenzbeitrag)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1117/12.825054
| Geprüft | Bibliothek |
Autoren
Wagner, Christian (Autor)
Ewald, Johannes (Autor)
Klassifikation
DFG Fachgebiet:
Optik, Quantenoptik und Physik der Atome, Moleküle und Plasmen
DDC Sachgruppe:
Physik
Verknüpfte Personen
- Georg Ankerhold
- Professor
(FB Mathematik und Technik)
- Peter Kohns
- Professor
(FB Mathematik und Technik)
