Exploiting the interaction area limitation in Electrostatic Force Microscopy for dielectric measurements of nanoparticles
Micro and Nano Engineering. Elsevier BV 2026 S. 100394
Erscheinungsjahr: 2026
ISBN/ISSN: 2590-0072
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1016/j.mne.2026.100394
| Geprüft: | Bibliothek |
Autoren
Lehnert, Lukas (Autor)
Helgest, Lars (Autor)
Baumann, Benjamin (Autor)
Musyanovych, Anna (Autor)
Kunnen, Eddy (Autor)
Thoelen, Ronald (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
