Reference-based monitoring for defect detection in fused filament fabrication using image feature classification
The International Journal of Advanced Manufacturing Technology. Springer Nature 2026
Erscheinungsjahr: 2026
ISBN/ISSN: 1433-3015
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1007/s00170-026-17844-w
| Geprüft: | Bibliothek |
Inhaltszusammenfassung
Autoren
Bast, Sebastian (Autor)
Scherer, Kai (Autor)
Klassifikation
DFG Fachgebiet:
4.43-04 - Künstliche Intelligenz und Maschinelle Lernverfahren
DDC Sachgruppe:
Informatik
Verbundene Forschungsprojekte
Verknüpfte Personen
- Stefan Naumann
- Professor
(Umweltplanung/Umwelttechnik)
- Stephan Didas
- Professor
(Hochschule Trier)
- Michael Wahl
- Professor
(Hochschule Trier)
- Guido Dartmann
- Professor
(Hochschule Trier)
