On-device Fault Classification for industrial environments : leveraging hierarchical CNNs for energy efficiency
Luis Almeida; Marina Indria; Mario de Sousa; Antonio Visioli; Mohammad Ashjaei; Pedro Santos (Hrsg). 2025 IEEE 30th International Conference on Emerging Technologies and Factory Automation : ETFA 2025 : 09-12 September 2025, Porto, Portugal. Piscataway, NJ: IEEE Computer Society 2025 4 S.
Erscheinungsjahr: 2025
Publikationstyp: Diverses (Konferenzbeitrag)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/ETFA65518.2025.11205655
| Geprüft: | Bibliothek |
Inhaltszusammenfassung
Autoren
Vashishth, Devesh (Autor)
Sasikumar, Kavya (Autor)
Wagner, Marco (Autor)
Lämmel, Ralf (Autor)