Insights into Explicit Semantic Analysis
Bettina Berendt;Arjen de Vries;Wenfei Fan;Craig Macdonald;Iadh Ounis;Ian Ruthven (Hrsg). Proceedings of the 20th ACM International Conference on Information and Knowledge Management CIKM 2011; October 24–28, 2011; Glasgow, Scotland, UK. New York, NY: ACM Association for Computing Machinery 2011 S. 1961 - 1964
Erscheinungsjahr: 2011
ISBN/ISSN: 978-1-4503-0717-8
Publikationstyp: Diverses (Konferenzbeitrag)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1145/2063576.2063865
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Autoren
Gottron, Thomas (Autor)
Anderka, Maik (Autor)
Stein, Benno (Autor)
