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Continuous Detection of Design Flaws in Evolving Object-Oriented Programs using Incremental Multi-pattern Matching

David Lo;Sven Apel;Sarfraz Khurshid (Hrsg). ASE’16 Proceedings of the 31st IEEE/ACM International Conference on Automated Software Engineering; September 3–7, 2016; Singapore, Singapore. New York, NY: ACM Association for Computing Machinery 2016 S. 578 - 589

Erscheinungsjahr: 2016

ISBN/ISSN: 978-1-4503-3845-5

Publikationstyp: Diverses (Konferenzbeitrag)

Sprache: Englisch

Doi/URN: 10.1145/2970276.2970338

Volltext über DOI/URN

GeprüftBibliothek

Autoren


Peldszus, Sven (Autor)
Kulcsár, Géza (Autor)
Lochau, Malte (Autor)
Schulze, Sandro (Autor)

Beteiligte Einrichtungen