Random pattern fault simulation in multi-valued circuits
Proceedings 25th International Symposium on Multiple-Valued Logic. USA: IEEE Comput. Soc. Press 2002
Erscheinungsjahr: 2002
ISBN/ISSN: 0818671181
Publikationstyp: Diverses
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/ismvl.1995.513516
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Informatik
