OBDD-based optimization of input probabilities for weighted random pattern generation
Twenty-Fifth International Symposium on Fault-Tolerant Computing. Digest of Papers. USA: IEEE Comput. Soc. Press 2002
Erscheinungsjahr: 2002
ISBN/ISSN: 0818670797
Publikationstyp: Diverses
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/ftcs.1995.466991
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Informatik
