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Robust two-dimensional electronic properties in three-dimensional microstructures of rotationally stacked turbostratic graphene

Physical review applied. Bd. 7. H. 2. College Park, Md.: American Physical Society 2017 S. 024022-1 - 024022-10

Erscheinungsjahr: 2017

ISBN/ISSN: 2331-7019

Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz (Forschungsbericht)

Sprache: Englisch

Geprüft:Bibliothek

Autoren


Richter, Nils (Autor)
Hernandez, Yenny R. (Autor)
Schweitzer, Sebastian (Autor)
Kim, June-Seo (Autor)
Patra, Ajit Kumar (Autor)
Englert, Jan (Autor)
Lieberwirth, Ingo (Autor)
Liscio, Andrea (Autor)
Palermo, Vincenzo (Autor)
Feng, Xinliang (Autor)
Hirsch, Andreas (Autor)
Müllen, Klaus (Autor)
Kläui, Mathias (Autor)

Klassifikation


DDC Sachgruppe:
Physik