Industrial defect detection on the edge with deep learning over scarcely labeled and extremely imbalanced data
2023 IEEE International Conference on Omni-layer Intelligent Systems (COINS). Berlin, Germany: IEEE 2023 S. 1 - 6
Erscheinungsjahr: 2023
Publikationstyp: Buchbeitrag (Konferenzbeitrag)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/coins57856.2023.10189246
Schlüsselwörter
Klassifikation
DFG Fachgebiet:
4.43-04 - Künstliche Intelligenz und Maschinelle Lernverfahren
DDC Sachgruppe:
Informatik
