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Efficient Sequential Fault Simulation and the Multiple Observation Time Test Strategy.

In Proceedings of the International Design Automation Conference. San Francisco. 1995 S. 339 - 344

Erscheinungsjahr: 1995

Publikationstyp: Diverses (Konferenzband)

Sprache: Englisch

Geprüft:Bibliothek

Autoren


Becker, Bernd (Autor)
Keim, M. (Autor)

Klassifikation


DDC Sachgruppe:
Informatik

Verknüpfte Personen


Beteiligte Einrichtungen