Influence of dielectric layer thickness and roughness on topographic effects in magnetic force microscopy
Beilstein Journal of Nanotechnology. Bd. 10. Beilstein Institut 2019 S. 1056 - 1064
Erscheinungsjahr: 2019
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.3762/bjnano.10.106
| Geprüft: | Bibliothek |
Autoren
Krivcov, Alexander (Autor)
Ehrler, Jasmin (Autor)
Fuhrmann, Marc (Autor)
Junkers, Tanja (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
