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Augmenting sensitivity analysis for embedded applications by program level derivation of process parameters.

SIES. 2007 S. 17 - 24

Erscheinungsjahr: 2007

Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz

Doi/URN: 10.1109/SIES.2007.4297312

Volltext über DOI/URN

Geprüft

Bibliothek

Autoren

Zöbel, Dieter (Autor)

Weyand, Christian (Autor)

Verknüpfte Personen

Dieter Zöbel
Mitarbeiter/in
(Institut für Informatik)

Beteiligte Einrichtungen

Institut für Informatik
(Universität Koblenz)