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Towards Tolerating Soft Errors for Embedded Systems

SN Computer Science. Bd. 2. H. 2. Singapore: Springer 2021

Erscheinungsjahr: 2021

Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz

Sprache: Englisch

Schlüsselwörter:

  • Criticality analysis
  • Embedded systems
  • Heuristic metrics
  • Reliability risks
  • Soft errors

Doi/URN: 10.1007/s42979-021-00497-9

Volltext über DOI/URN

Geprüft:Bibliothek

Inhaltszusammenfassung


Autoren


Sadi, Muhammad Sheikh (Autor)
Ahmed, Waseem (Autor)
Jürjens, Jan (Autor)