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Umweltplanung/Umwelttechnik

Hochschule Trier

Postfach 1380, 55761 Birkenfeld
Publikationen
PDF | RTF
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Hoogers, G.; Lesiák-Orłowska, B.; King, D. A.

Diffusion on a stepped surface: H and D on Rh{332}

Surface Science. Bd. 327. H. 1-2. Elsevier BV 1995 S. 47 - 52


Krieger, Rolf; Becker, Bernd; Keim, M.

Efficient Sequential Fault Simulation and the Multiple Observation Time Test Strategy.

In Proceedings of the International Design Automation Conference. San Francisco. 1995 S. 339 - 344


Helmers, E; Wilk, G; Wippler, K

Lead in the urban environment—Studying the strong decline in Germany

Wippler, K. Bd. 30. H. 1. Pergamon 1995 S. 89 - 101


Kroll, Andreas; Gerke, Wolfgang

Modellierung eines pneumatischen Feststoffördersystems mit relationalen Fuzzy-Modellen.

Automatisierungstechnik. Bd. 43. H. 11. Oldenbourg 1995 S. 525 - 530


Krieger, Rolf; Becker, Bernd; Sinkovic, R.

Necessary Assignments for an Accelerated OBDD-based Computation of Exact Fault Detection Probabilities.

In GI/ITG Workshop 'Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen'. Hannover. 1995


Krieger, R.; Becker, B.; Okmen, C.

OBDD-based optimization of input probabilities for weighted random pattern generation

Twenty-Fifth International Symposium on Fault-Tolerant Computing: Digest of Papers. Pasadena: IEEE 1995 S. 120 - 129


Drechsler, R.; Krieger, R.; Becker, B.

Random pattern fault simulation in multi-valued circuits

Proceedings 25th International Symposium on Multiple-Valued Logic. Bloomington: IEEE 1995 S. 98 - 103


Hoogers, G.; Papageorgopoulos, D. C.; Ge, Q. et al.

Self-acceleration in the decomposition of acetic acid on Rh{111}: a combined TPD and laser induced desorption study

Surface Science. Bd. 340. H. 1-2. Elsevier BV 1995 S. 23 - 35


Helmers, Eckard; Schrems, Otto

Wet deposition of metals to the tropical North and the South Atlantic Ocean

Schrems, Otto. Bd. 29. H. 18. Elsevier 1995 S. 2475 - 2484


Hahn, R.; Krieger, R.; Becker, B.

A hierarchical approach to fault collapsing

Proceedings of European Design and Test Conference (EDAC-ETC-EUROASIC). Paris: IEEE 1994 S. 171 - 176