FAST-SC: Fast Fault Simulation in Synchronous Sequential circuits
The Sixth International Conference on VLSI Design. USA: IEEE 2005
Erscheinungsjahr: 2005
ISBN/ISSN: 0818631805
Publikationstyp: Diverses
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1109/icvd.1993.669662
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Informatik
