Combined use of XAFS, XRD and TEM to unravel the microstructural evolution of nanostructured ZrO₂ –SiO₂ binary oxides: from nanometres down to the molecular domain
CrystEngComm. Bd. 12. H. 5. London: Royal Society of Chemistry 2010 S. 1639 - 1649
Erscheinungsjahr: 2010
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.1039/b911004f
| Geprüft: | Bibliothek |
Autoren
Meneghetti, Fabio (Autor)
Wendel, Eric (Autor)
Mascotto, Simone (Autor)
Smarsly, Bernd M. (Autor)
Tondello, Eugenio (Autor)
Bertagnollib, Helmut (Autor)
Gross, Silvia (Autor)
