Automated Damage and Defect Detection with Low-Cost X-ray Radiography Using Data-Driven Predictor Models and Data Augmentation by X-ray Simulation
Stefano Mariani; Francisco Falcone; Stefan Bosse; Jean-Marc Laheurte (Hrsg). The 10th International Electronic Conference on Sensors and Applications : 15–30 November 2023, Online. Basel: MDPI 2023 12 S.
Erscheinungsjahr: 2023
Publikationstyp: Diverses (Konferenzbeitrag)
Sprache: Englisch
Doi/URN: 10.3390/ecsa-10-16126
| Geprüft: | Bibliothek |
Inhaltszusammenfassung
Autoren
Bosse, Stefan (Autor)
