Reflection-scanning near-field optical microscopy and spectroscopy of opaque samples
Journal of applied physics : A. Bd. 59. H. 2. Berlin: Springer 1994 S. 103 - 108
Erscheinungsjahr: 1994
ISBN/ISSN: 1432-0630 ; 0947-8396
Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz
Sprache: Englisch
| Geprüft: | Bibliothek |
Autoren
Bielefeldt, H. (Autor)
Hörsch, I. (Autor)
Krausch, Georg (Autor)
Lux-Steiner, M. (Autor)
Mlynek, J. (Autor)
Marti, O. (Autor)
Klassifikation
DDC Sachgruppe:
Physik
