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Reflection scanning near-field optical microscopy with uncoated fiber tips : how good is the resolution really?

Journal of Applied Physics. Bd. 81. H. 6. 1997 S. 2499 - 2503

Erscheinungsjahr: 1997

ISBN/ISSN: 1089-7550 ; 0021-8979

Publikationstyp: Zeitschriftenaufsatz

Sprache: Englisch

Doi/URN: 10.1063/1.363957

Volltext über DOI/URN

Geprüft:Bibliothek

Inhaltszusammenfassung


We have investigated the optical resolution of a scanning near-field optical microscope in reflection collection mode using an uncoated fiber tip. We demonstrate that the apparent resolution in the optical signal (better than 70 nm) is a topography-induced effect. We believe that the purely optical resolution is only of the order of λ/2 and diffraction limited.

Autoren


Sandoghdar, V. (Autor)
Wegscheider, S. (Autor)
Krausch, Georg (Autor)
Mlynek, J. (Autor)

Klassifikation


DDC Sachgruppe:
Physik